配套不同主机多种规格可选,稳定低噪,为您提供纯净无油气体。一体化的生产组装流程保证每个配件都实现高品质。
FIB专用全钨探针,针柄和针尖都为钨,针尖最大使用寿命内规格为<0.5um。
这些提升式TEM网格专为FIB应用而设计。网格由铜/铍制成,厚度约为35μm(±5μm)。有效网格直径为3.05mm。
Omniprobe载网专为FIB设计,载网上的齿针可以为样品提供良好的支持,下方的标识变化可以在TEM中准确的定位样品,可根据需求选择三齿、四齿、五齿的载网。
上海禾早为各种仪器提供全面的样品制备服务,采用标准的金属材料加工而成,可根据需求更换不同材质,包括铝合金、黄铜、纯铜等。此样品台可适配赛默飞、蔡司、泰思肯扫描电镜样品台。
MCS 系列放大校准标准是独特、经济高效、范围广泛的 SEM 校准标准。这些功能齐全的实用校准标准可用于桌面S […]
Agar Scientific钨丝采用专门设计的夹具制成,可确保生产中的准确性和可重复性。使用高延展性钨丝来最大限度地减少应变。所有灯丝都通过在高于正常工作水平的温度下在真空中闪烁来消除应力,然后检查定心的准确性。
六硼化镧(LaB6)是最好的热离子发射材料之一,因为它的功函数低,熔点高。DENKA LaB6阴极作为电子显微镜和电子束平版印刷仪的电子源而享有盛誉。
DENKA TFE 是一种 ZrO/W 发射器,通过用吸收的锆和氧层覆盖其单晶钨针的表面,钨的功函数降低。由于其亮度比单晶LaB6阴极高100倍,并且发射电子的能量宽度很小,即使在低光束电压下,探头也可以聚焦得更小。因此,DENKA TFE最适合半导体材料和器件的表面观察。此外,由于其极其稳定的发射电流和较长的使用寿命,DENKA TFE用于各种电子束应用设备,如半导体检测仪和电子束光刻设备。
铝基碳胶带 厚度160μm,基材厚度30μm 电阻率<5ohms/mm² 更加适用于粉末样品,表面更加光滑,导电率更高,在高倍率下溅射样品漂移。
这些纯单质元素标样汇集了全球领先的制造商、受人尊敬的专业人士、分析师和电子显微镜用户,为您提供了全面的参考材料目录。
每台电子显微镜都需要校准,我们可以为您提供执行此操作的工具。 我们提供一系列不同规格的QCT(质量控制测试)模块,以满足您的各种需求。我们还能够提供 EDX 校准标准,该标准专为帮助校准任何 EDX 系统而设计。