Agar Scientific拥有超过四十年的经验,专业从事各种形式的显微镜检测的耗材及设备。
Bilz Vibration Technology AG在德国成立于1985年,主要设计生产用于精密设备的隔离设备。
Denka致力于通过以化学工程为中心的制造业务,为社会发展做出贡献,赢得社会的信任。
EPHEMERON致力于电子显微镜数据正变得越来越多维,加快探索过程,提高实验效率。
FemtoTools是一家瑞士高科技公司,开发高分辨率基于MEMS的纳米压头,用于薄膜和微系统技术的应用。
多数半导体、太阳能、LED 和磁盘驱动器公司依靠 H-Square 来解决其产量、质量或人体工程学挑战
上海禾早仪器有限公司是国内专业的科研仪器械服务商之一。
日立(HITACHI)是日本的全球500强综合跨国集团,1979年便在北京成立了第一家日资企业的事务所。
自1981年成立以来,MAC为全球电子显微镜用户和微量分析系统制定了标准:
Micro to Nano是一家专门从事电子显微镜和扫描探针显微镜技术的创新,分析仪器用品的公司。
上海禾早电子科技有限公司作为国内专业的科研仪器械服务商之一,在产品开发上积累丰富的实践经验。
日本实验室耗材的供应商,主要负责电子显微镜样品制备所需的设备、试剂和材料。
自 1972 以来,全球范围内的污染监测解决方案的专家.
Safematic坐落在瑞士莱茵河畔,在真空和镀膜技术方面有着悠久的创新历史,瑞士制造。
上海金相机械设备有限公司,成立于新世纪之初(2001年),专业从事“宇舟”品牌金相制样设备的自主设计。
Struers 提供完整系列的领先材相解决方案、产品和服务,每次都能提供您所需的准确性、效率和可重复性。
Swift凭借其丰富的专业知识和有效的创新,能够为微测试行业设计和提供全方位技术解决方案的公司之一。
TESCAN专注于微观形貌、结构和成分分析的科学仪器的跨国公司,是全球知名的电子显微仪器制造商。
Tinius Olsen先生于1880年发明了第一台万能试验机,纵观其发展历史,公司一直走在发展和创新的前沿。
Carl Zeiss Microscopy GmbH 是蔡司集团的显微镜业务部,由卡尔·蔡司先生于 1846 年创建。
日立高分辨冷场发射扫描电镜SU9000是世界上最高二次电子分辨率(0.4nm@30kV)和STEM分辨率(0.34nm@30kV)的扫描电镜.它采取了独特的真空系统和电子光学系统,不仅分辨率性能优异,而且作为冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作,可以快速稳定的进行超高分辨成像.
用于常规材料表征的小型分析扫描电子显微镜,微米级的研究和质量控制应用。
自主研发生产制造新一代磁控离子溅射仪,担当样品制备仪器的新一代天花板。一键操作,全数字化人机界面。
IM4000PLUS是支持断面研磨和平面研磨(Flat Milling®*1)的混合式离子研磨仪器。借此,可以用于适用于各种诸如对样品内部结构观察和各类分析等,制备样品所设计。
提供各种型号的辉光放电单元。一种简单、独立的辉光放电系统,通常用于碳涂层透射电镜网格的疏水性到亲水性转换,从而轻松铺展水性悬浮液。它还允许对试样表面进行深度清洁或离子蚀刻,对于清除污染膜或沉积物非常有用。等离子体的极性可以改变,以进行表面处理或金属试样的表面蚀刻。EasyGlow放电清洁系统是一种紧凑,独立,易于使用的放电清洁系统,主要设计用于TEM支撑膜的表面改性。该系统支持负电荷或正电荷的亲水性和疏水性处理,并包括两个单独控制的进气口。
Agar高真空离子溅射仪为场发射扫描电镜高分辨率成像镀膜困难样品时遇到的问题提供了真正的解决方案,在超高真空度下,更小的金属颗粒,无需担心对样品形貌的影响。
我们为EBIC成像和分析提供完整的解决方案。我们可以提供定制软件包,其中包括在SEM上进行EBIC测量所需的一切。
FT-S微力传感探针的精巧设计使得FT-NMT03纳米力学性能测试系统能够在SEM的最佳分析工作距离下测试。另外,其紧凑的设计能够在力学测试的同时进行离子束的沉积和切割。这可用于在拉伸测试中样品与微力传感探针针尖的粘合和移除。
TenuPol-5 用于对试样进行自动电解变薄,以在透射电镜中进行检查。通过使用内置扫描功能和其他增强功能,可以轻松设置新材料的参数,并将这些参数存储在方法数据库中。TenuPol-5 中包含两个单独单元,即控制单元和抛光单元或变薄单元。
三脚架抛光机 590 可用于制备用于 SEM 和 TEM 横截面分析的样品。
了解等离子体的视觉特征也有助于在早期挑战成为问题之前识别它们。本文将概述影响等离子体外观的一些关键因素:(i) […]
电子显微镜技术依赖于样品和显微镜之间电子的转移。对于导电样品,这可以很容易地实现。但是,有必要用导电涂层涂覆非 […]
1935年,Max Knoll在德国发明了扫描电子显微镜(SEM),用于研究电视管的目标。两年后,曼弗雷德·冯 […]