泰思肯钨灯丝扫描电子显微镜VEGA-COMPACT

TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电子显微镜，采用全新的 Essence™ 电镜操控软件系统，将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。这种组合大大简化了样品表面形貌的采集及所含元素的数据分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料等检测提供更高效的分析的解决方案。

TESCAN VEGA Compact证明了入门级并不一定意味着对结果的妥协，为实验室提供了完整的分析SEM解决方案，这些实验室优先考虑易于操作和快速获得高质量图像和构图（EDS）分析。

TESCAN VEGA Compact具有简化的配置，仅包括最关键的组件，用于有效捕获形态学和元素数据，使TESCAN VEGA Compact能够在实验室中占用更小的占地面积。TESCAN VEGA Compact 能够容纳工业、材料科学和半导体中常见的大型样品，如冶金横截面、焊接结构或印刷电路板，不仅是您当前材料检测、质量控制和故障分析需求的绝佳选择，也是您未来分析需求的绝佳选择。

TESCAN VEGA Compact采用TESCAN自己的全功能图形用户界面TESCAN Essence™，这是所有TESCAN SEM和FIB-SEM仪器的核心。学习TESCAN VEGA Compact的操作员可以轻松过渡到其他TESCAN显微镜，或调整Essence软件环境的某些功能，以匹配实验室中其他仪器的使用。

设备特点：
使用 VEGA Compact 的大型腔室更快地处理样品，该腔室为分析多个样品或大样品提供了空间，以及真正的高真空度，可实现可靠的 EDS 结果
使用TESCAN可选的、完全集成的Essence™ EDS的叠加功能，轻松获取构图数据并将其直接与SEM图像相关联
使用TESCAN的飞行光束追踪™快速设置光束参数，以获得最佳成像和分析条件
使用TESCAN独特的宽视场光学™模式，以低至2倍的放大倍率轻松精确地导航，无需额外的光学相机
使用TESCAN独特的实时3D碰撞模型自信地移动样品并避免碰撞，该模型复制了腔室内部样品和探测器的大小和几何形状
自定义GUI以匹配用户的经验水平和应用，直观地操作TESCAN的Essence™显微镜控制软件
使用TESCAN的可选真空缓冲器节省成本并减少生态足迹，从而显着减少真空旋转泵的运行时间