Agar FIB载网
这些提升式TEM网格专为FIB应用而设计。网格由铜/铍制成,厚度约为35μm(±5μm)。有效网格直径为3.05mm。
型 号:AGJ553 / 1097
品 牌:Agar scientific
产 地:英国
型号: 3-post、 4-post、 5-post
材质:铜
- 产品特点
- 技术文章
- 相关产品
产品描述
这些提升式TEM网格专为FIB应用而设计。网格由铜/铍制成,厚度约为35μm(±5μm)。有效网格直径为3.05mm。
由Agar Scientific制造,我们提供4种不同的风格,带有V型缺口或直柱。
直柱可以容纳柱子两侧的薄片。这是使用FIB提升网格的最快,最简单的方法,直柱是普通薄片或需要能量色散光谱时的理想选择。V型缺口柱具有中心位置,可用于小型和大型薄片。这是为了机械稳定性和产生薄薄薄片而设计的,因为薄片的两侧都连接在一起。所有Agar Scientific FIB提升网格都有更薄的边缘工作区域,以确保更好地附着薄片,并标有从A到E的字母以供参考。
尺寸(宽 X 高 X 深)
3 柱 FIB 载网
一个 50 x 200μm 直柱
两个 120 x 210μm 宽 V 型缺口柱
3 柱 FIB 提升格栅(带侧面通道):
一个 50 x 200μm 直柱
两个 120 x 210μm 宽 V 型缺口柱
左侧移除,以便在使用显微操纵器或纳米机械手安装TEM薄片时更好地接近
4 柱 FIB 提升网格:
两个 50 x 200μm 直柱
两个 120 x 210μm 宽 V 型缺口柱
5 柱 FIB 提升网格:
五个 50 x 200μm 直柱
- 脉冲喷碳仪 2024/09/28
- 离子溅射仪 2024/07/07
- 扫描电镜中的TKD - 针对透射菊池衍射(t-EBSD) 2023/09/10
- 喷碳仪用于扫描电子显微镜的用途 2023/03/19
- 离子研磨仪制备FIB样品 2022/10/18
- 主动减振和被动隔振的区别 2022/07/06
- 如何选择被动隔振和主动隔振系统 2022/06/04
- 扫描电子显微镜在法医取证中的应用 2022/04/28
- SEM中纳米材料表征的无与伦比的解决方案 2022/04/25
- 改进的溅射技术有助于减少钨薄膜中的应力 2022/04/23
DA7001岱洛静音无油空压机
配套不同主机多种规格可选,稳定低噪,为您提供纯净无油气体。一体化的生产组装流程保证每个配件都实现高品质。
FIB全钨取样针Omniprobe全钨探针
FIB专用全钨探针,针柄和针尖都为钨,针尖最大使用寿命内规格为<0.5um。
Omniprobe FIB载网
Omniprobe载网专为FIB设计,载网上的齿针可以为样品提供良好的支持,下方的标识变化可以在TEM中准确的定位样品,可根据需求选择三齿、四齿、五齿的载网。
SEM钉型样品台适配赛默飞|蔡司|泰思肯扫描电镜
上海禾早为各种仪器提供全面的样品制备服务,采用标准的金属材料加工而成,可根据需求更换不同材质,包括铝合金、黄铜、纯铜等。此样品台可适配赛默飞、蔡司、泰思肯扫描电镜样品台。
Mcs系列扫描电镜可追溯源放大倍率校准标样
MCS 系列放大校准标准是独特、经济高效、范围广泛的 SEM 校准标准。这些功能齐全的实用校准标准可用于桌面S […]
Zeiss蔡司扫描电镜钨灯丝SEM耗材
Agar Scientific钨丝采用专门设计的夹具制成,可确保生产中的准确性和可重复性。使用高延展性钨丝来最大限度地减少应变。所有灯丝都通过在高于正常工作水平的温度下在真空中闪烁来消除应力,然后检查定心的准确性。
DENKA LaB6 扫描电镜电子源
六硼化镧(LaB6)是最好的热离子发射材料之一,因为它的功函数低,熔点高。DENKA LaB6阴极作为电子显微镜和电子束平版印刷仪的电子源而享有盛誉。
DENKA TFE电镜场发射钨灯丝
DENKA TFE 是一种 ZrO/W 发射器,通过用吸收的锆和氧层覆盖其单晶钨针的表面,钨的功函数降低。由于其亮度比单晶LaB6阴极高100倍,并且发射电子的能量宽度很小,即使在低光束电压下,探头也可以聚焦得更小。因此,DENKA TFE最适合半导体材料和器件的表面观察。此外,由于其极其稳定的发射电流和较长的使用寿命,DENKA TFE用于各种电子束应用设备,如半导体检测仪和电子束光刻设备。