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日立离子研磨仪 IM4000II

日立离子研磨仪标准机型IM4000Ⅱ能够进行截面研磨和平面研磨。还可通过低温控制及真空转移等各种选配功能,针对不同样品进行截面研磨。

型 号:IM4000II / 1837
品 牌:
产 地:日本

低温控制功能:将液氮装入杜瓦罐中,以此作为冷却源间接冷却样品。IM4000Ⅱ配有温度调节控制功能,以防止树脂和橡胶样品过冷。

真空转移功能:离子研磨加工后的样品可以在不接触空气的状态下直接转移到SEM*1、AFM*2上。真空转移功能与低温控制功能可同时使用。(平面研磨真空转移功能不适用低温控制功能)。

咨询电话:021-5980 5057

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日立离子研磨仪标准机型IM4000Ⅱ能够进行截面研磨和平面研磨。还可通过低温控制及真空转移等各种选配功能,针对不同样品进行截面研磨。

离子束加工是在真空条件下,离子枪中低压惰性气体离子化,出射的阳离子又经加速,获得具有一定速度的离子束投射到样品表面,由于离子带正电荷,其质量比电子大数千、数万倍,所以离子束比电子束具有更大的撞击动能,靠微观的机械撞击能量加工样品。

高效率的截面研磨
IM4000II配备截面研磨能力达到500 µm/h*1以上的高效率离子枪。因此,即使是硬质材料,也可以高效地制备出截面样品。

复合型研磨仪
截面研磨
即使是由不同硬度以及研磨速度材质所构成的复合材料,也可以通过IM4000Ⅱ制备出平滑的研磨面优化加工条件,降低因离子束所致样品的损伤。
可装载最大20 mm(W) × 12 mm(D) × 7 mm(H)的样品

截面研磨的主要用途
金属以及复合材料、高分子材料等样品的截面制备
含有裂缝和空隙等特定位置的样品截面制备
多层样品的截面制备以及对样品EBSD分析的前处理。

平面研磨
直径约为5mm范围内的均匀加工
应用领域广泛
最大可装载直径50 mm × 高度25 mm的样品
可选择旋转和摆动(±60度,±90度的摆动)2种加工方法

平面研磨的主要用途
去除机械研磨中难以消除的细小划痕和形变
去除样品表层部分
消除因FIB加工所致的损伤层

日立ArBlade 5000离子研磨仪

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ArBlade 5000是日立离子研磨仪的高性能机型。它实现了超高速截面研磨。 高效率截面加工功能,使电镜截面观察时样品加工更简单。

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IM4000PLUS是支持断面研磨和平面研磨(Flat Milling®*1)的混合式离子研磨仪器。借此,可以用于适用于各种诸如对样品内部结构观察和各类分析等,制备样品所设计。