氩离子束可切割样品获取样品截面

对于SEM中的高分辨率成像以及EDS或EBSD的准确分析，正确的样品制备至关重要。如果用剪刀或刀切割样品，样品的切片可能会压缩，从而导致原始形状的变形。

如果样品在用液氮冷冻后被切割，则可能很难获得干净的切片。如果使用机械抛光，可能会出现表面物理变形，细小划痕和污染等问题。对于具有薄层和软层的复合材料，由于层容易被压碎，因此可能难以进行精确的厚度测量。

为了简化这些困难样品的制备，我们使用离子束进行切割。离子研磨系统是一种样品制备设备，可以通过将氩等离子体离子束施加到样品上来非常干净地切割表面。由于离子磨机在原子水平上去除材料，因此通过离子研磨制备的切片比使用传统抛光方法可以获得的更清洁，更精确。不会对样品施加机械应力，并且由于不使用化学抛光剂而消除了污染。此外，离子研磨系统可以在相同的时间内使用镓离子束蚀刻约50倍于FIB的区域，从而以显着降低的成本提供更快的样品周转时间。

当配备适当的样品架时，离子磨机可用于广泛的应用，包括纤维，陶瓷，金属，聚合物，薄膜，甚至粉末。

以下示例仅显示了可以使用离子磨机进行横截面和制备的几种样品类型。如果您的工作需要对难处理的样品进行大量制备，离子磨可能是帮助加快样品制备并改善成像和分析的理想解决方案。